Изображение может быть репрезентативным.
Подробную информацию о продукте см. в характеристиках.
Подробную информацию о продукте см. в характеристиках.
SN74LVTH182512DGGR
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
номер части
SN74LVTH182512DGGR
Производитель/Бренд
Ряд
74LVTH
Статус детали
Active
Упаковка
Cut Tape (CT)
Рабочая Температура
-40°C ~ 85°C
Тип монтажа
Surface Mount
Пакет/кейс
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Пакет устройств поставщика
64-TSSOP
Напряжение питания
2.7 V ~ 3.6 V
Количество битов
18
Тип логики
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Запросить цену
Пожалуйста, заполните все обязательные поля и нажмите «ОТПРАВИТЬ», мы свяжемся с вами в течение 12 часов по электронной почте. Если у вас возникнут какие-либо проблемы, оставьте сообщение или электронное письмо [email protected], мы ответим как можно скорее.
В наличии 17539 PCS
Контактная информация
сопутствующие товары
Ключевые слова SN74LVTH182512DGGR
SN74LVTH182512DGGR Электронные компоненты
SN74LVTH182512DGGR Продажи
SN74LVTH182512DGGR Поставщик
SN74LVTH182512DGGR Распределитель
SN74LVTH182512DGGR Таблица данных
SN74LVTH182512DGGR Фото
SN74LVTH182512DGGR Цена
SN74LVTH182512DGGR Предложение
SN74LVTH182512DGGR Низшая цена
SN74LVTH182512DGGR Поиск
SN74LVTH182512DGGR Покупка
SN74LVTH182512DGGR Chip